前言

[数位音响分析系统] (Digital Audio Analyser System, DAAS ) 是德国admengineering公司(位于Nordhorn)所发展与制作的.

合法使用者可以无限次使用DAAS 所附的软体,并且容许自行拷贝一份当作[备份]软体,仅限自己使用. 除此之外,此软体、使用手册、与硬体等之其它拷贝或以任何形式复制,均属违法,将依法追诉. 使用手册或内含之资讯必须获得adm engineering公司或RCM Akustik公司之书面许可,才能转载或复印.

adm  engineering公司与RCM Akustik公司并不保证本使用手册或所附之软体毫无瑕疵. 欢迎使用者提供修正意见,若有任何缺失,本公司将尽快修正.

使用手册里所提及之公司名称与商标品牌等均受国际法保护,即使未特别声明.

MS-DOS and WINDOWS ? Microsoft Corporation

DR-DOS ? Digital Research  IBM PC、XT、AT、PC-DOS ? IBM(Inter National Business Machines)

1 概述

前言

    DAAS(数位音讯分析系统Digital Audio Analyser System)之发展目的在于制造一个能够利用个人电脑功能又售价合理的频率响应度测试仪器, 从取样、类比/树位转换、到计算评估技术等, 此系统逐渐发展成目前的多功能形式DAAS 3L.

    尽管讯号取样有很多种分析方法, 然而对于使用者而言, 测试值比讯号本身更加重要. 换言之, 扬声器或扩大机的设计师并不需要了解数字讯号评估技术, 因为每一项测试均可依照指定的程序而获得测试结果. 每一测试的所有重要参数均已经有最佳化之设定. 凡是想进一步利用此系统者, 可以更改系统参数, 尝试其它领域之运用,例如频谱分析与示波器功能等.

新的DAAS 3L包含许多重要而实用的功能：

利用[数位/类比转换器]与[类比/数位转换器]产生讯号与执行测试。

以[可变频率解析度]测量频率与阻抗。

计算频率与阻抗之相位时，能够自动延边修正。

计算[梯形响应]与[瀑布频谱]。

频率响应曲线之同音场修正。

几乎任何频率均可进行失真测试。

评估频率与失真之关系。

利用可变频率测量[互调失真]。

计算Thiele Small参数，包括当量容积。

最大频率解析度大约0.5HZ。

可与扬声器电脑辅助设计软体Audio CAD与CALSOD等配合运用。

    DAAS有许多简单而实用之功能与特色，例如书面放大，以及重叠显示频率响应曲线与阻抗曲线等。

DAAS工作方式介绍

频率响应的主要测试方法有三种，最简单且最古老的方法是输入[颤音]，由已知的频率与振幅输入给受测物体，然后再测其输出音讯，并且相互比较。欲获取完整的响应曲线，必须进行多次测试。

    如图所示，绘图机可绘出响应曲线。如果把[带通滤波器]（中频可与讯号发生器之频率同步改变）连接于麦克风与绘图机之间，在密闭室里，有可能过度移除室内反射音，而获得自由音场之测试值。此原理即为TDS。

    更迅速更准确的方发是运用一系列滤波器，把这些滤波器并连起来，每一个滤波器均有一个独一无二的中心频率，每一个滤波器各自与其侦测仪器相连。

    当选用适当的中心频率，而使一系列并连滤波器之频带恰好密切接合之际，即可获得完整之频谱。如此只要利用DAAS执行两次测试，即可得到完整的频率响应曲线。

    先给[受测物件]（例如一只扬声器）一个含有所需各种频率的讯号（通常是[粉红噪讯]或[白噪讯]），分别求出[受测物件]之输入频谱（[基准测试]）以及输出频谱。所欲求之[频率响应曲线]即等于[输出频谱]除以[输入频谱]。

    此外，亦可选择其它测试，例如单一频带测试、失真测试、dB（A）估算等。

    不论如何，使用的并连滤波器数量越多，则每一滤波器之频带范围越窄，所得到的解析度越高。但是，频带越窄的滤波器，价格越为昂贵。通常使用的并连滤波分析仪器含有31个频带滤波器，每一个相当于1/3Octave=Terz。

    近年来，电脑科技发展迅速，出现了一种新的分析技术，称为[FFT分析仪]。此种分析仪是模拟上千个并连滤波器而进行复杂的数学运算。

    利用一个[类比/数位转换器]，可以模拟出滤波器之讯号而由电脑读取和计算。

    频率响应之测试与并连滤波分析仪类似，同样是估算受测物件之输入与输出。理论上，如果我们使用[周期讯噪]的话，有可能只要测量出[输出频谱]，即可求得频率响应值。然而，由于使用的是可变增益的扩大机，因此仍有必要测量[输入频谱]。并连滤波器分析仪之频率解析度仅受限于个人电脑的处理能力与记忆容量。

    以下是DAAS所产生的一些讯号，供各种特定测试之用：

    1.[粉红噪音]、[白噪讯]、与[最长序讯]（MLS），供频率响应与阻抗测试之用。

    2.任何频率之[正弦波]，供[失真测试]之用。

    3.正弦波组合讯号，供[互调因数测试]之用。

4.序列讯号，供[谐波失真测试]之用。

5.特殊PN序列讯号，与频谱分析仪配合，供[频率响应测试]之用。

此外，还可依照使用者之要求产生其它的讯号。

经过数字化的讯号，可以进行以下工作：

波形分析。

喇叭单体参数（亦即Thiele Small参数）。

非正弦讯号之真正RMS测试。

暂态分析。

其它。

利用[FFT演算法]求出频谱，即可估算出频率。

频率与相位响应/转换功能。

梯形响应/动态响应。

瀑布频谱。

关联分析。

阻抗、幅度与相位。

谐波失真、互调、差音因数。

AM/FM（调变）分析。

噪讯与音压电平测试，使用不同的加权滤波器。

以不同的评估视窗与解析度执行频谱分析。

一旦利用适当软体把讯号之数字化资讯储存起来以后，几乎可以毫无限制的随时用任何方式给予评估利用。

2 安装与开始

2-1.安装ADC/DAC卡

    关闭电脑，拔下电源插头。掀开电脑之主机盖，选择一个可用的16位元扩充卡座（尽可能远离其它卡以及电源供应器，必要时，调整其它卡的位置）。在取用ADC/DAC卡以前，先用手接触[接地点]（例如机内的散热器），把身上可能积累的静电移除。然后把ADC/DAC卡妥善地插入所选定的卡座上，锁好螺丝。

    插卡错误可能导致故障，甚至损害电脑功能，此种损伤不在品质保证范围内。安装若无把握，不妨请经理商代劳。

    装回主机箱，开启电源，确认电脑工作正常。如果有问题，重新检查插卡是否插入定位良好，所有接线与插头是否正确连接。每一片ADC/DAC卡在出厂之前，均经过严格检验。ADC/DAC卡之IO位址内定于358 Hex与35F Hex。此位址不可与其它扩充卡之位址冲突。必要时，可以更改位址（详见9-4节之说明）。

2-2.安装DAAS软体

本软体可在Windows98及Windows ME环境下运行,下面就如何将本软体安装在Windows98环境作一简单说明(其它详细安装方法请参阅Windows使用手册).

首先，把任意一张安装软盘放入软盘驱动器里，然后在Windows98之“我的电脑”中双击“驱动器A:”图标, 此时可看到“驱动器A:”中的文件.

选择此文件,并且点一下工具栏中的“复制”钮,将此文件复制.

返回“我的电脑”打开“驱动器C:”(双击“驱动器C:”图标即可).

选择“文件”→“新建”→“文件夹”单击

此时可看到“驱动器C:”中多了一个“新建文件夹”,双击打开此“新建文件夹”.

单击“粘贴”按钮, “驱动器A:”中的内容即被复制到此“新建文件夹”中.

照以上方法将另一张软盘复制到此文件夹中.

在“新建文件夹”中双击“DAAS.EXE”图标,此文件即开始自动解压缩.

此时可看到“新建文件夹”中多了一个“DAAS3LT文件夹”.

双击打开“DAAS3LT文件夹”将其中一个名为“DAAS3L”应用程式文件的图标拖到“桌面”,安装即告完毕.

最新版本的DAAS软体安装仅需将配套光盘放入光驱中即可自动安装完毕,非常快捷.

2-3.开始

要运行DAAS 应用程式,只要双击“桌面”之DAAS图标即可.

2-4.使用DAAS图形显示介面

DAAS之图形介面可以完全使用功能键或鼠标操作。其书面区域说明如下：

    第一行包括[ESC键/End键]、[标题栏]、以及[日期与时间栏]等三栏。[ESC键]用于取消第一项动作。[End键]用于结束一项测试或离开软体。[标题栏]显示目前测试的名称。[日期与时间栏]显示当前的日期与时间。

    第二行有两栏，左栏是[讯息盒]（显示额外的讯息与结果），右栏是[受测物件]（显示受测物件之名称，容许以11个英文字母描述此物，按[Alt+M]或直接用鼠标左键点一下此栏，即可开始输入。

    书面下方是十个功能键，从F1至F10，所有控制功能尽皆包罗。可按键盘上的对应功能键，也可以直接用鼠标左键点取所要的功能。

    书面中央时常会出现[讯息盒/输入盒]，随时显示测试的进行状况、相关的资讯或警告等，也可用于输入物件名称或档案名称。

    DAAS卡有两个输入与一个输出端。麦克风是与[MIC插孔]相连接，麦克风之最大音压是±0.2V、±2V、±20V三种范围可供选用。

    DAAS所产生的所有讯号均由[Out插孔]输出。此输出之最大电平是±4V（600 Ohm负载），可以1dB阶梯方式逐渐降低，可用范围是90dB。

    在测试扬声器或者其它低阻抗的物件时，受测物件与[Out插孔]之间必须连接一台功率扩大机。（注意：一般的扩大机即可，切勿使用桥接式扩大机！！！）

3 测试

最重要且最常用的测试均已涵盖于DAAS当中。

    各种测试过程均有逐步之指引，其中包含各种不同的选项。每一步骤一目了然，几乎都不用任何准备工作。各种测试之参数均预先经过最佳化设定，这样可以减少测试误差。必要时，有经验的使用者可以针对特殊的测试自己更改某些参数。

3-1.频率响应测试

    使用DAAS数字讯号处理，只要测量两次，在短短几秒钟后，即可测出扬声器、分音器、或扩大机等之频率响应曲线。在专业应用上也可绘制出对数型响应曲线，或以Terz（1/3 Octave）刻度表示之。

    此外，也可计算出[相位频率响应]，而应用于频响图里。在声音特性测试方面，配合关联分析仪（Correlation's-Analyser）之下，可算出延边，并且修正之，然后绘出修正后的[延边相位曲线]。相位曲线之延边修正可在测试之后微调，利用鼠标或功能键执行之。

    根据受测物件（例如扬声器）之频率响应，可进一步利用DAAS之分析而获得两项重要特性：[梯形响应][Step Response]与[累积瀑布频谱]（Cumulative Waterfall Spectrum）。

功能键：

按[F1]执行频率响应测试（或以鼠标左键点取书面下方之[F1 Freq.resp…]位置）。

首先，必须对受测物件之输入讯号执行一次基准（参考）测试。

有四种可能性：

声性→电性（例如麦克风）。

声性→声性（例如各扬声器之比较）。

电性→声性（例如扬声器）。

电性→电性（例如扩大机、分音器）。

    前两项（例如麦克风或各扬声器之比较）必须执行[声音特性]基准测试。在二次书面的选项里，选择acoustic。把扩大机之输入与[Out]连接，同时把扩大机之输出与扬声器连接。其次，把麦克风放在基电平置，如图所示，即可开始基准测试。如果声音电平太高或太低的话，可利用扩大机之[音量调整钮]调整之（或者按F3 Output选择输出电平）。然后，再重复执行一次基准测试。

    后两项（例如扬声器、扩大机或分音器等）必须执行[电性]基准测试，把受测物件（例如图中之扬声器）分别与[Out插孔]及[Line插孔]连接。

[电性]基准测试之第一步逐是选择电压范围：

最佳电压调节范围随着不同的受测物件而有所差别。

    如果是测试扩大机之类的电性产品，应该选择[F4 Out Att]，使其范围在20至40dB（绝对不可出现[削峰]）! 而选用2V或20V电压范围。

    如果是测扬声器的话，由于讯号电平是扩大机增加的，所以通常选择20V电压范围。讯号电平之修正可利用扩大机之[音量调整钮]调整之。

    也可测量[测试讯号]之电平，按[F4 Out Att]，然后按[F2 Test]。此时出现短暂的测试讯号，同时进行测试，书面随即显示出电平图。利用扩大机之[音量调整钮]调整电平之大小，或者按[Up]或[Down]调整之。之后，在同一测试里不可再变更此一电平。

    [F5 Load]是[载入]键，可利用此键载入先前所测试的结果，供往后评估之用。换言之，可先执行一系列测试，并且逐一储存测试结果，日后再取出评估。如果所有测试设定项目均未变动的话，也可延用先前相同设定时的基准讯号。（详见[载入与储存讯号]一节之说明）。

当测试结束之际，应出现类似以下之书面：

    如果讯号太大，书面会出现警告信息。如果太小的话，测试误差会更高。不论何者，均应重新调整扩大机之[音量调整钮]，然后重新测试。

   欲储存测试讯号，可按[F5 Save]。

   按[F4 Print]，执行打印，把荧幕书面印至9或24针矩阵印表机或Hp系列打印机，或者创建一个PCX档案。（详见第6章之[萤幕书面之列印]）

   如果讯号正常，且扩大机之设定已经固定，按[F1 OK]。如果电平变更或输出衰减的话，所得之曲线依然正确，但是绝对电平已经改变，换言之，曲线在纵坐标上之位置已经变动了。于评估结束时，把受测物件之输出与[Line插孔]连接，如果是扩大机选electric，如果是扬声器的话，对正麦可风，选acoustic。

   当一切设定就绪，开始选择电压范围（±0.2V、±2V或±20V，也即±2Pa或±8Pa）。所选的电压范围应该充分利用，但不可造成过度驱动（也即不可出现[削峰]），另一种方式为按[F5]，从储存资料的硬盘载入一个讯号。

    如果测试进行正常，可按[F5]（储存测试结果），或按[F1]（把测试结果显示在荧幕上）。

    如果属性选项里所选的是[手动延边补偿]（manual delay compensation）的话，在扬声器测试之际，会要求测试者输入麦克风与扬声器之间的距离。当此距离超过10厘米或相位响应之计算讲究精确之际，所输入之距离极为重要，应该尽可能精确（准确度至厘米为止）。

此选项通常可选[自动（automatic）延边补偿]不必输入距离，只有在产生了明显的错误结果时，才改选[手动延边补偿]。自动计入的距离会显示在书面上方的[讯息盒]里，应该检查一下是否合理。

重要提示：

   当测试低音喇叭之际，自动显示值会比实际值多出2厘米左右，此乃低音喇叭单体之特性使然，属于正常现象。

图例显示一个车用喇叭在36厘米距离时的频率响应结果。

    在[Options]选项里，可以改变刻度。此例可改为正常1米距离之db SPL/2.83V刻度。换言之，可以把曲线位置修正到1米距离且读取电压2.83V（相当于1 Watt、8 Ohm）之下的刻度。假定距离超过10厘米，在自动修正下，不必输入精确的距离与电平。不过，如果要把结果输出至扬声器电脑辅助设计软体的话，有时会使用特定的刻度，以便于比较。

    如果自动显示的距离比实际的超出数厘米，可按[F10]选用手动修正，以便输入更精确的距离值。必要时，可以设定固定的距离，供日后所有相同的测试之用。

    如果只需要某一段频率响应范围的话，可按[F8]设定界限，所绘出之曲线即局限于此频响范围里。例如欲测之扬声器并非常20HZ至20KHZ全音域响应者，即可利用此方式测试（参阅3-1-7节）。

    按[F9]可给予曲线大约1 Terz（1/3 Octave）之平滑处理。频率响应曲线可按[F10]储存或重新载入。只要目前处理之曲线没有消除的话，所载入的曲线即重叠于原有曲线上。因此，书面可载入任意数量的曲线而重叠显示出来。不过，值得注意的是不同刻度的曲线有时会位于书面之外。<, , /P>

    执行房间声学特性测试之际，建议先用Terz显示书面，其图形如下所示：

    按[F4 Print]开始打印，把荧幕书面用9或24针矩阵印表机、Hp系列打印机列印出来，或者创建一个PCX档案。（详见第7章之说明）

3-1-1.相位响应曲线

    根据频率响应曲线，可计算出此器件之其它属性。

    按[F3 Phase]，可计算并显示出其相位响应曲线。如果[自动延边修正]运作成功，或键入的扬声器与麦克风之间的距离正确，其结果可能类似下图所示：

    如果选按[F8 Wrap/No Wrap]启用[正负方位显示]的话，所呈现的相位响应曲线会有±180°转折。相位响应曲线之伸缩显示可按[F6]或[F7]调整之。

    在Option选项里，可设定适当之线条显示式样，这样在荧幕显示或列印时，更能够清楚的分辩。（详见第9章之说明）

3-1-2.最小相位

    依据[频率响应曲线]（振幅响应），按[F3 Minimum Phase]，即可利用[Hilbert转换]计算出最小相位系统之最小相位曲线。所需之计算时间大约只要几毫秒（依所使用的电脑之计算能力而定）。

    麦克风与扬声器之间的估算距离可以利用[相位响应曲线]与其[最小相位曲线]之间的差异（有时称之为[过度相位]）推算出[延边误差]，而给予修正。

    值得注意的是[最小相位曲线]（尤其在频率范围之上限与下限附近）可能会有微小之误差，原因在于[Hilbert转换]乃是频率范围无限之延伸，然而所测试者却是局限在特定的频率范围里。

3-1-3.群延迟

    利用[相位响应曲线]或[最小相位曲线]，可以求出[群延迟曲线]（Group delay curve）。

3-1-4.梯形响应

    根据所测得之复杂频率曲线，求出梯形响应。

    为了显示清楚，时间轴可以放大（Zoom t与Re-Zoom t）。

3-1-5.自由音场修正

    为了正确测得频率响应起见，扬声器之许多物理特性必须考虑。

    真正的频率响应曲线只能在[自由音场]（free field）里，或是在适当大小的[无响室]内才能获得。原因在于其它的空间里会有来自天花板、地板、墙壁…等之[反射音]干扰。

   [无响室]之大小为多少，以及其最低可用频率为多少均与其空间大小有关：

    如果低频要测至50HZ的话，最小[净]长度为6.8米！吸音材料至少要有1/4波长的厚度（即1.7米）。因此，室内总长度应该要有10米才行！

    如果没有[无响室]，利用一般的房间也可以进行测试。不过，应尽可能选用大型的房间，同时让扬声器与麦克风大约维持在10至20厘米的距离以内。所选用的房间里不可有任何[回音]。

   

    按[F2 Free field]（自由音场频率曲线计算），可消除不受欢迎的反射音。此功能可由扬声器之脉冲响应计算为[小针脉冲]（small meedle impulse）。从脉冲响应里，可分辩出任何回音并且消除之。寻找1至10毫秒区域里讯号于0毫秒停止者。利用箭头键（[←]、[→]、[Ctrl]+[←]，或[Ctrl]+[→]）移动[标线]（细垂直线，图中近于4毫秒处者）至此讯号之前方。所有位于[标线]右方之回音均要移除。

    值得注意的是消除回音会降低解析度。解析度等于[1/测试时间]。如果标线是在5毫秒的话，解析度就是200HZ。

    如果不能确定的话，可按[F1]接受建议的设定。如此即可根据没有反射音干扰的脉冲计算出频率响应。

    不管有无降低解析度，每一次之显示均从100HZ开始。解析度以下没有意义的部分是由一条位于频率刻度下方之横线标示出来。

    此曲线可按[F1 Load/save]（载入键/储存键）储存起来，日后再载入使用。按[F3]可获得修正的相位响应曲线。

3-1-6.瀑布频谱

    根据上述修正过的频率响应曲线，可计算出瀑布频谱图。由此可看出扬声器所有频率的[累积频谱衰减]（cumulative spectral decay）状况，从而了解喇叭单体或音箱所产生的额外共振结果。

.    瀑布频谱图内大约含有48至72条曲线。第一条曲线是包含输入至扬声器之测试讯号的频率响应，其它的则否。在理想状态里，扬声器第二条曲线即为频率轴，换言之，由于没有输入讯号，所以没有声音出现（没有响应曲线）。然而，实际上的扬声器完全不是如此理想。

    此图之时间轴可以放大/缩小（[F2 Zoomt]与[F3 Re-Zoomt]）。当使用放大功能时，所有曲线重新计算过。内定的时间轴可以改变（参阅9-1节）。在测试高音单体时，最低频率（图例为300HZ）可以更改为200至2000HZ。

    按[F5]可储存瀑布频谱图，按[F10]则可载入。当瀑布频谱图载入之际，原来的书面即消除。

    如果想要运用自己的软体与DAAS 3L+配合的话，可以索取有关档案格式方面的资讯。

注意：

在自由音场计算里，当删除回音以后，所有超出标线的内容即一并删除，此标线位置即相当于瀑布频谱图之界限。

3-1-7.音频响应测试之重要注意事项

测试讯号之电平必须大于环境噪音，才可能获得正确的[频响曲线]与[相位曲线]。

如果测试结果有很明显的错误，首先利用[电平测试]检查[讯噪比]（signal to noise ratio）。在不变更设定之情况下，先测试电平，然后拆下与扬声器之连线，再测一次。

检查Terz电平。如果发现有些频带之噪讯与测试讯号有相近之电平时，应该换一间房间或者再增加测试讯号之电平。换言之，每一频带之噪讯应该比测试讯号低10dB至20dB（差别越大越好）。必要时，不妨更改测试讯号。[粉红噪讯]之低频能量多于[白噪讯]或MLS。相反的，如果要较多能量的高频，不妨使用[白噪音]或MLS。

    相位响应尤其对不适用的房间或杂讯较高者非常敏感。此问题通常出现于全音域扬声器或多单体的扬声器箱上。

唯有适当的[讯噪比]，才能算出正确的[相位响应]。但是，在测试扬声器（尤其是全音域响应）时，往往不是如此。例如高音单体在100HZ处音压非常低，几乎完全被室内杂讯所遮蔽。虽然可以看到此处之相位响应，但却是受室内杂讯影响的错误结果。在此情况下，应该限定适用的频率范围。

如果需要重复以前做过的测试时，两者之设定一定要完全一样。

房间之形式与大小。

扬声器之位置（音箱或墙壁喇叭的尺寸）。

麦克风与扬声器之间的距离。

如果打算执行一连串测试供日后评估之用的话，一定要储存受测物件之输入频谱与输出频谱。当多项测试均使用相同之设定之际（例如不同的扬声器与同一台扩大机），所用之输入讯号（此例是指扩大机之输出），只要测试一次并且储存起来即可。执行过基准测试后，不要再更改扩大机之设定。

3-1-3.输出

    频响曲线与相位曲线可以储存起来供其它软体（资料库或扬声器CAD等）使用。目前可以输出的格式包括Audio CAD与CALSOD（参阅9-1节）。这些档案可用任何文书编辑程式阅读。

    按[F5 Exoprt]即启用输出功能。输出档案名称之前三个字母是物件制造商的名称，接着的五个字母则是物件名称。按[Alt+M]或用鼠标左键点取MO栏，即可键入档名。

    如果设定了频率范围的上限与下限的话，只有在限定范围里的区域得以输出，输出之刻度一律是dB SPL/2.83V且为1米之距离。

3-1-9.利用[正弦波]测试

    频率响应测试也可利用特殊的扫描讯号（sweep signal）执行。所附的扫描讯号档是PNCHIRP.DAT于开始处含有短周期序列讯号，可供[声音特性（acoustic）测试]决定距离之用。只要选用此PNCHIRP.DAT档作为测试讯号，即可进行频率响应测试（参见9-2节）。

3-2.失真

    失真（更正确的名称为[非线性失真]）是由于讯号通过扩大机或扬声器时在振幅方面产生放大或衰减之变异。此种转换变异使原本线性的讯号变成弯曲形态。如下图所示，主要变异有[二次方]（quadratic）或[三次方]（cubic）之增益特性。

    一般而言，增益特性是由线性、二次方与三次方等特性所组成。当频率F的正弦波出现失真之际，就会冒出原来讯号所没有的[泛音]（或称谐波）。二次方特性仅产生[偶次谐波]（2×F或4×F等）。三次方特性仅产生[奇次谐波]（3×F或5×F等）。线性增益特性则无失真产生。

    [非线性失真]之测试通常选用以下两种其中之一：[谐波失真]与[互调因数]。

3-2-1.谐波失真

    [谐波失真]是测量[非线性失真]最常用的方法。先计算出正弦波讯号失真所产生之谐波，然后与总讯号相互比较。谐波失真测试法适用于大约6KHZ以下之低频或中频。超过6KHZ的第三次谐波（危害最大者）却不在此频带范围。

    DAAS用于测试[谐波失真]之可变正弦波范围是从20HZ至6KHZ（100HZ以下者之取样频率必须改变）。

    下图是测试扬声器[谐波失真]的设置方式：

    按[F3]从主选项里选择[谐波失真]测试，然后在此书面里按[F2]选择输入（Line=electric，Mic=acoustic，见书面左上方之讯息栏）与测试范围（±0.2V、±2V或±20V，相应的±2Pa或±8Pa）。按[F3]选择输出电平衰减。按[F4]选择测试频率。最后，按[F1]开始测试。

    测试（短正弦波讯号）之后，书面即出现测试过的讯号。必要时，改变输出电平，重新测试，直到输出电平之范围大约占书面1/2为止。适当的设定如图例所示：

如果讯号太大，会有警告讯息出现。如果精确度太低的话，位于下方范围的部分漏失了。

    按[F5]储存或载入。按[F1][测试OK]会计算出[谐波失真]。

以下重要的参数会显示出来：

K2：第二次谐波失真。

K3：第三次谐波失真。

□K4：第四次谐波失真。

K5：第五次谐波失真。

    相对之下，K2不太重要，小数点以下第二位数值可以忽略不计。然而，K3非常重要，其数值精确度应该计算至0.1%。总谐波失真之计算公式如下：

                 

                 

    第六次谐波失真以及更高者对测试结果影响甚微。因此，超过第五次谐波失真的一律舍去不用。

    按[F2]或[F3]变更书面大小，按[F7]或[F8]移动书面。

注意：

    此谐波失真测试不可使用外接的讯号（例如来自正弦波发生器的讯号）。

3-2-2.谐波失真曲线

    通常，只用一个频率来决定[谐波失真]是不够的。DAAS在100HZ至8KHZ的范围里有20个点可用来建立[谐波失真曲线]。

    建立[谐波失真曲线]的方法与单一频率失真测试大致相同。

    按[F4]（Measuring frequency）设定频率界限。测试点的数量右所界定的范围来决定。

   

    开始测试时，即出现类似以下之书面：

    讯号结合而形成一个单一书面。左变的是低频，右边的是高频。按[F1]计算谐波失真曲线：

    所现示的是[第二次谐波失真]与[第三次谐波失真]。

    测试点可以增加，同时也会因此增加记忆容量、硬蹀空间、以及计算空间等。细节可另涵索取。

3-2-3.互调因数测试

    [互调因数测试]适用于评定转换系统之品质，利用两个测试音执行，其方法与[谐波失真测试]一模一样。

    DAAS 3L+提供了一个复合讯号供[互调因数测试]之用。此讯号包含两个振幅关系为4:1的音讯。输出振幅之音讯是在100HZ至1000HZ的范围里。较小振幅的音讯则固定为4或5KHZ。

    只有[第二次谐波失真]与[第三次谐波失真]供评估之用。建议依据DIN45403.4进行评估。

    与失真测试之比较，此处所用之较低界限稍微高一些。原因在于DIN所建议的U1 :U2振幅比值为4:1，否则会导致U2比所需者低12dB。

    此[互调因数测试]不可使用外接的讯号。

3-3.阻抗测试

    利用DAAS 3L+可测量出扬声器或分音器之阻抗曲线，及相关的相位响应。与频率响应测试一样，此测试可分为两个阶段。

    首先，进行基准测试。通过一个1K Ohm（±1%）的电阻把[Out插孔]与扬声器连接起来。然后，把[Line输入]接于[Out插孔]与电阻之间。将输出电平衰减至0dB。按[F1]开始测试。基准测试成功后，按[F1]开始频谱分析。

    其次，把[Line输入]与扬声器连接起来，如图所示：

    [Line输入]应与受测物件直接连接，以避免量测电缆线。如此即可正确执行测试。

    通常使用的电压范围是0.2V，只有当电阻超过大约100 Ohm时，会出现警告，此时则应该选择2V电压范围。

    其讯号书面大致如下：

   

欲储存或载入的话，按[F5]。

    如果讯号之振幅正确的话，按[F1]开始计算，随即出现阻抗曲线。

    以960uH线圈为例，其阻抗曲线如下：

   按[F6]与[F7]可将刻度从1 Ohm/Div依序改变至32 Ohm/Div。

   按[F3]计算并显示相位曲线。

   [F10 Load/Save]为[载入/储存键]。换言之，按[F10]可储存阻抗曲线，日后同样可按[F10]载入此曲线。当载入阻抗曲线之际，直接重叠于目前书面所显示之曲线上。亦即原来的曲线（无论有多少）不会自动消失。利用[F10]可以改变电阻直，内定直为1K Ohms。

   如果所测得的阻抗曲线有明显的失真或含有杂讯成分的话，表示受测物件对于测试讯号之振幅变化产生非线性的响应，此时可选用CHIRP.档作为测试讯号。

注意：

    电阻设定乃用于阻抗之计算，如果载入之讯号是以不同的电阻测得者，所显示的阻抗直即不正确。当使用小于600 Ohm之电阻时，应该在[Out插孔]与电阻之间连接一台测试用扩大机。此时应设定输出电平衰减为20dB。至于此扩大机之音量控制，应适当设定，以便在基准测试之际，其尖峰幅度至少为5V。

3-3-1.电感与电容

    根据[阻抗曲线]与[相位响应曲线]，只要按[F8]，即可计算出音圈的电感与电容之估算值（当数值较大时，必须先降低[取样频率]）。

   下图就是一个600uH音圈之阻抗曲线与相位曲线，以及所算出来之电感。

    所显示之电感范围大约是6uH至10mH左右，电容范围大约是1uF至100uF。

3-3-2.资讯输出

    [阻抗曲线]与[相位响应曲线]可以输出供其它扬声器CAD软体使用。目前可储存为Audio CAD、CALSOD、Akabak等应用软体之档案格式，以供进一步分析之用。这些档案属于文字档，可用任何文书编辑软体阅读之。按[F5 Export]，即可执行此种输出功能。

    输出档案名称之前三个字母是物件制造商的名称，接着的五个字母则是物件名称。按[Alt+M]或用鼠标左键点取MO栏，即可键入档名。

3-4.Thiele Small参数（喇叭单体参数）

    在起始书面，按[F3 Thiele Small]测试扬声器的低频参数。（其测试方法与扬声器阻抗测试方法一样）

    当阻抗测试完成以后，会询问喇叭单体之DC电阻值。如果较低频范围之电阻很平坦的话，其值可从图中获取，否则就要用[Ohm计]量出电阻值。之后，即可算出Qms、Qes与Qts，还有最低共振频率Fo。

    高音单体是例外，建议把取样频率降至6KHZ。

    在Thiele Small参数测试里，有可能出现以下错误信息：

“Phase zero cross point/impedance maximum not found……”

（相位零交越点/最大阻抗未发现……）

原因：

阻抗曲线之最大值于6KHZ取样时，超过1000HZ，或于48KHZ取样时超过3000HZ。

[相位零交越点]超出最大阻抗之可接受范围[大于2×共振频率/取样频率×共振频率之FFT长度（最大阻抗）]。主要发生于一对扬声器有两个非常接近的共振频率。

“The frequency resolution is too low……”。

（频率解析度太低……）

原因：最大阻抗所设定之解析度太低，误差太大，降低了取样率。

□“Resonant freq.is not equal to √f×f……”        

（“共振频率不等于√f×f……”）

原因：

    共振频率并非F1与F2之几何中心。尽管可以继续测试，但是误差难免。最好重新测试。

3-4-1.VAS测试

    为了计算[当量空气容积]（VAS）以及其它特性，例如功率因数、BI、SPL、Cms与Mms等，所用之正常参数必须预先取得（参阅3-4节）。然后按[F2]执行VAS测试。

    其次，在喇叭单体上放置一个小东西，再重新测试一次。建议使用可塑化学土，在单体之防尘盖周围绕成一环，小单体加重至10至15克，较大单体则加至30克。所加的可塑化学土必须精确的量出重量。粘在喇叭单体上之后，采用直立式（正常之安装与辐射方式）位置进行测试。

    按[F2]，键入喇叭单体之直径（mm）以及所增添的负重之质量。如果没有Thiele small参数，或其值不正确的话，无法计算VAS。

3-5.电平测试

    [电平测试]用于测量扩大机或录音机（不论有无A加权）之[噪讯电平]与[噪讯比]。此外，还可以测量dB（A）与dB 20uPa=dBSPL。

    在频率曲线测试里，可以利用[电平测试]设定测试电平。这在给扬声器特定电平的讯号时，或是在测试点（例如麦克风位置）需要一个特定的电平时，非常有用。

[噪讯电平]之测试非常简单。只要把受测物件与[Line插孔]连接，并且接好麦克风，按[F2]选择输入灵敏度。

按[F5]可载入先前所储存在档的讯号。

按[F1]开始测试。其讯号书面显示大致如下：

按[F1]表示接受，其电平即计算并显示出来。

下图显示由一台个人电脑所测得之Terz频谱及其电平。

    欲测量一台扩大机之[讯噪比]，先输入一个正弦波（例如1KHZ），然后测量其电平（选用20V范围，输出要载入电阻！）。增加音量设定，重复测试直到输出电压接近极限处。注意此电平，关闭输入讯号，然后以0.2V电压范围测量扩大机噪讯。这两者之电平差别即为[讯噪比]，不论有无A加权。

    如果需要其它曲线的话（B、C、D或P.53/O.41等），请洽询经销商。

    内建立之振荡器可当作[讯号产生器]。设定所需要的讯号（参阅[选项]），即可由[Out插孔]输出。按[F3]可以改变测试讯号之电平。

    欲设定频率响应之测试电平的话，从[选项]里选择为频谱响应测试而设定的讯号。连接扩大机之输出与[Line插孔]（如果没有扩大机时，与[Out插孔]相连接），并且连接扬声器与麦克风。利用扩大机之音量钮设定电平（或用[F3]），重复测试直到获得所需的电平为止。如此即可利用预先设定之电平来执行频率响应测试。

3-6.示波器

    利用[示波器]（Oscilloscope）功能，时间宽度与暂态讯息（长达2.5秒左右，频率范围达20KHZ）可显示出来，亦可列印之。

    所选之测试讯号如同[示波器]一般同频显示出来。

    在主功能选项里，按[F7]选示波器功能。然后在[F1]至[F10]当中设定测试参数。

    按[F2]可设定输入灵敏度，麦克风输入是±1Pa与±8Pa，或者高电平输入为±0.2V、±2V与±20V 。

    当使用DAAS测试讯号之际，其输出电平可按[F3]设定，或者利用扩大机之音量钮来设定。

    时间范围（点数）可按[F4 Time+]或[F9 Time-]变更之（与48KHZ取样时，之少为5ms，最大为2.7secs，使用更低的取样率时，最大可达22secs）。

    取样率（每秒之点数）可按[F10]从48KHZ改变至6KHZ，如此会在频谱分析之际，增加八倍测试时间与频率解析度。

    按[F1]开始测试。

    测试会一再的重复，直到按[ESC]键为止，或者按[F2]暂停。于暂停之际，按[F1]即可继续测试。

    在暂停模式里，可按[F4 Print]执行打印。利用[F2]与[F3]可选择特定的频段进行扩展与压缩之显示。[F6]、[F7]、[F8]与[F9]分别用于移动、显示与列印。其中[F7]与[F8]是移动一点，[F6]与[F9]是移动半点。

    亦可利用箭头键（[←]、[→]、[Ctrl]+[←]或[Ctrl]+[→]）。

    [讯息盒] 会将比例与讯号位置显示放大。

    按[F5]可在所选定之讯号范围执行频谱分析。

    按[F2]可延着曲线移动[标线]，同时读出频率值及其振幅。按[F5]可选定评监视窗，可用的视窗包括：

Square（用于暂态）。

Hamm（一般用途）。

Blackman

Kaiser（B=10.056，側瓣衰减大约100dB）。

Flat Top（用于精确设定振幅）。

    然后用[F6]、[F7]、[F8]或[F9]变更之。这些功能与频谱分析仪的相同（详见3-7节[频谱分析仪]）。

3-7.频谱分析仪

    利用频谱分析功能，20KHZ音频范位的时间讯号频谱以及暂态讯息（长度可达4096点，亦即85ms）均可显示与打印。

    所选之测试讯号如同[示波器]一般同频显示出来。

    利用特殊之测试讯号与特别的设定，即可执行频率响应测试，不会有时间延迟的问题，也不必先作基准测试。

    按[F8 Spectrum]选择[频谱分析]功能，即出现以下[F1]至[F10]之功能选项。

    按[F2 Input]可设定输入灵敏度。麦克风输入有±2Pa与±8Pa两种范围。当使用DAAS测试讯号之际，其输出电平可按[F3 Output]设定，或者利用扩大机之音量钮来设定。

    测试讯号是按[F5 Test signal]选择，选妥后，即由[Out 插孔]输出，而与测试周期同步。

    分析长度（DFT/FFT长度，可选范围从512至4096点）、视窗功能（有五种视窗可供选用）、平滑因数以及平均数值等是按[F4 FFT-Params]设定的。

    内定使用的是Square视窗。于[F4 FFT-Params]里，可以选用的视窗包括：

Square（用于暂态）。

Hamm（一般用途）。

Blackman

Kaiser（B=10.056，侧瓣衰减大约100dB）。

Flat Top（用于精确设定振幅）。

[平滑（smooth）功能]只限使用于[噪讯]（noise signals）。

注意：

[Terz平滑处理]是平滑于1/3 Octave频带宽度，其结果与[1/3 Octave]并不相同！

    利用[F6]、[F7]、[F8]或[F9]设定所要的视窗。

    按[F1]开始测试。

测试会一再的重复，直到按[ESC]键为止，或者按[F2]键暂停。如果DAAS正在计算之际，会有一些延迟现象。

    暂停之际，整个测试暂时终止，[标线]位于最大电平处。同时，频率及其有效值会显示在[讯息盒]里。

    [标线]可用[F2]、[F3]、[F7]与[F8]移动，频率及有效值随之更新显示。亦可利用箭头键（[←]、[→]、[Ctrl]+[←]、[Ctrl]-[→]）。

    于暂停之际，按[F1]即可继续测试。按[F4]进行列印。按[ESC]回到可以改变参数的选项处。然后重复测试。

3-7-1.几乎即时的频率测试

     DAAS软体含有许多特殊的测试讯号，这些是借助于DAAS-FFT所产生的，因此其所有属性均能与分析测试完全配合。其中的两个讯号WN2048.DAT与WN4096.DAT特别适用于频谱分析里的[频率响应曲线]测试。

    频谱包含（当使用2048或4096点FFT与方形视窗之时）一条线，没有变异，此在测试一个噪讯时属于正常现象。

    当测试持续之际，此方法特别适用，例如微调音箱与分音器。以下是典型的设定。利用扩大机之音量钮（或用[F3 Output]）设定输出电平（应远超过环境噪音电平）。在频谱分析选项里，按[F2]选择[声性（acoustic）输入]，并且正确摆放麦克风的位置。

   

在开始测试之时，适当调整扩大机之音量旋钮，避免出现过载显示。

所显示之频谱即为受测物件（扬声器）之频率响应曲线。

注意：

所显示的曲线属于相对曲线，其绝对值（例如2Pa/V）在此无法直接读取。

    在频率响应测试里，[平滑功能]很有用处。可以设定平滑选项为[yes]以获得较为平滑的曲线。亦可设定平滑选项为[Terz]以获得1/3 Octave频带宽度的棒状图。

    频谱分析之频率响应测试亦可采用较低的取样率，以便提高解析度（测试范围0至2KHZ）。

    按[F2 Pause]暂停，然后按[F4 Print]执行打印，可以把荧幕书面用9或24针矩阵印表机或者是Hp系列打印机列印出来，另外可以创建一个PCX档案。（详见第7章之列印说明）

3-8.残响时间

    在室内音频测试，[残响时间]是其中重要的一项。对任一音源而言（例如扬声器），在每一房间都有其特定的[残响时间]。最简单的残响计算方法是用手掌相击或是利用扬声器发出之短暂噪讯，然后测量出[音压衰减斜率]。通常是以60dB电平差异为典型测试范围。这就是该房间的RT60延时混响。

    然而，这种测试方法之缺点是所测得之[残响时间]与所选用的[测试频率]彼此有密切关系。一般而言，使用有谐波的音讯（例如任何乐器的声音）通过扬声器发出来的话，没有测试的价值，因为响应频率的范围相当大，使得测试结果不正确。DAAS采用[可变中心频率]的[窄频带噪讯]，即可避免这一缺点，不需要设定复杂的参数，简单而易行。

  

    在主菜单选项里，按[F5 RT60]选择[残响测试]，再按[F5]选择输入灵敏度（±2Pa或±8Pa）。至于输出电平，可利用扩大机之音量旋钮设定之（或按[F10]）。

    选妥了测试频率只后，即可开始RT60测试。书面随即出现[60dB残响衰减曲线]以及一条[斜率线]。可以利用[F2]、[F3]、[F7]与[F8]校准[斜率线]之倾斜角度（使之与[残响衰减曲线]之斜线完全平行）。此时，由上方之[讯息盒]即可读出所选用测试频率之RT60（单位：毫秒）。必要时，可按[F5 smooth]使[残响衰减曲线]更为平滑（如此会使得最低可测之残响时间提高）。

    按[F4 Print]即可把[残响衰减曲线]列印出来，或储存为一个PCX文档。

4.讯号产生器

    于主功能选项里，选按[F9 Signal Player]。此讯号产生器用于发出测试讯号。并且在测试之际，产生特定的波形。按[F4]设定输出电平。

    [F1]选播一个讯号档之测试讯号。可选[播放一次]（Signal）或[重复播放]（cont）。或者是按[F2]、[F3]或[F4]设定输出电平。

    选择[频率波形]或[讯号档案]，开始执行[讯号产生]功能。按[ESC]键即停止执行。（荧幕书面中央之[讯息盒]会显示所选用的[测试频率]）

较高频率之解析度测试

    此系统可利用较高的取样频率执行测试（有关的设定参阅第9节），而使频率解析度提高八倍！可用之频率范围因此延伸至10HZ（谐波失真、频谱测试）与3HZ（频率与阻抗测试）。然而，上限却降至2000HZ。

    仅[互调因数测试]是例外，所有分析测试均可使用较高的解析度。尤其是频率与阻抗响应之最大解析度可达0.59HZ左右！所有测试讯号之频率均可降低八倍。例如1KHZ.DAT测试讯号降低八倍取样频率之后，即变为125HZ。

    不需要进一步改变参数。[噪讯滤波器]（Anti-Aliasing-Filter）是降低频率界限的必需品，已内建为DAAS之标准配备之一。

储存与载入讯号

    每一次测试之前，可利用[F5]按键载入讯号。每一次测试之后，亦可利用[F5]按键储存起来。

    按[F5]之后，[档案选择盒]出现，而且只有与目前测试有关的档案会显示出来。以箭头键选取或按[F2]、[F3]。

    选妥档案之后，按[Enter]键或以鼠标左键点取[F1]，载入此档案。亦可直接键入档案名称（不必键入副档名）。

    只有与目前测试有关的档案可以载入，于储存之际，相关的讯息亦一并与讯号储存在一起，如此可供日后评估之用。

如果起用[基准测试自动储存]功能的话（详见9-1节），每一个用于频率响应测试的基准讯号，均以LASTREF之档名自动储存起来。日后回到此频率响应测试之际，只要设定没有变更的话，即不必再执行基准测试。

荧幕书面之列印

    按[F4 Print]即可把荧幕书面列印出来。可连接之列印机包括9或24针矩阵式印表机或Hp系列打印机等，或者当作一个PCX档案储存。在[Options]功能选项里，按[F8]选择所需的存档格式。PCX档案可以直接输出至其它的绘图软体（例如Windows的画图或photoshop等）或各种文书排版软体里。

    荧幕书面之列印亦可利用DOS程式GRAPHICS.COM。方法很简单，在DOS提示下，键入GRAPHICS.COM。欲列印时，按住[Shift]键。（详细操作步骤请参阅DOS使用手册，或选用市售之抓图程式）

    欲彩色列印的话，可利用windows的剪贴功能。在windows操作系统里，启用DAAS，当所要的书面出现之际，按[Alt]+[Prtscr]。此书面即暂时储存在[剪贴簿]（记忆体）里，如此可用适宜之windows应用软体（例如Pagenmaker）等取用之。（详细操作步骤请参阅windows使用手册）

宏记录

    [宏（macro）记录]容许记录一连串[键入之内容]以及[鼠标之动作]，可以供日后重复使用。最多可容许九个[宏记录]。

   [宏记录]方法如下：

[Shift]+[数字]（限1至9，例如[Shift]+[2]）。[宏记录模式]是以两个短音表示开始了。

开始键入所要的内容或操作鼠标进行[宏记录]（资讯窗上方的小点代表目前出于[宏记录模式]）。

欲停止[宏记录]，只要再按一次先前所按的[Shift]+[数字]，此时可听到DAAS之终止音。

欲使用[宏记录]里的内容，只要按[Alt]+[数字]即可。

注意：

    [宏记录]只能记录所键入的内容或鼠标操作结果，而且只能在相同的操作环境里。例如：欲重复频率测试的话，不可在[F10 Options]的选项环境里执行在[F1 Freq.resp]里记录的频率响应测试内容。

下列三项是可以记录的：

资讯窗里的文字。

重复模式里，停止scope。

重复模式里，停止讯号产生。

离开DAAS之后，所有[宏记录]依然存在。

选项

    [F10 Options]是选项按键，用于设定各种测试的系统参数。按[F10 Options]即出现以下之书面：

    各种设定如下：

[F1]

    除了设定各个测试选项里的电平以外，还设定[Out插孔]输出电平（亦即衰减）范围为0至90dB。

[F2]

设定[阻抗测试]与[Thiele Small]参数测试之输出电平（亦即衰减）,范围为0至90dB。

[F3]

频率响应曲线与阻抗曲线之输出格式有以下四类：

AudioCAD：

副档名.AMP之[频率响应曲线]。

副档名.PHA之[频率相位曲线]。

副档名.IMP之[阻抗曲线]

副档名.PHE之[阻抗相位曲线]。

CALSOD：

副档名.SPL之[频率响应曲线]。

副档名.IMP之[阻抗曲线]。

Akabak：

副档名.AKD之[频率响应曲线]。

副档名.IMP之[阻抗曲线]。

资料库：

以.DBF或.FRQ为副档名。

[F4]

    起用或关闭讯息声与警告声。

[F5]

利用RAM记忆体暂时储存。当使用此功能之际，DAAS使用512K。如果记忆体不足的话，可关闭此功能，把资料暂存于硬盘上。

[F6]

    改变系统取样率。内定取样率为48KHZ，其频率解析度最低可至5HZ，荧幕显示范围从20HZ到20KHZ。按[F6]使取样频率降为6KHZ，可提高较低频率范围之解析度，其解析度可至0.59HZ，荧幕范围从10HZ至2KHZ。当取样率降低之后，所有测试讯号频率均降低八倍。取样率亦可选为64KHZ,此时测试频率范围为20HZ至30KHZ.

[F7]

    当输入电平超出负荷之际，会有警告声，且[讯息盒]亦出现警示。按[F7]会配合此状况而使荧幕书面闪烁。

[F8]

    用于设定输出元件：

9与24针矩阵式列印机（Epson兼容）。

Hp系列各种打印机（或兼容机种）。

输出为黑白的PCX档案。

[F9]

    RS232串行口数据输出控制。

[↑F2]

     供[频率响应]与[阻抗测试]之选项(详见9-1节)。

[↑F3]

    设定荧幕书面之色彩与自动歇息之选项（详见9-3节）。

[<, /SPAN>↑F4]

    设定系统参数之选项（详见9-4节）。

[ESC]

按[ESC]键离开选项表。

   于离开DAAS之际，所有设定均自动储存。

9-1.频率响应测试参数设定

    在此书面里，可以设定[频率响应测试]之各种参数及相关的功能。

[F1]

    频率曲线有五种刻度可供选择：

dBPa/V（dB Pascal/Volt，1Pa=10ubar）。

dBSPL/V（dBSPL=dB relative 20 uPa，（1Pa=94dBSPL）。

dBSPL/2.83V修正至一米。

dBSPL/1m/1w/8 Ohm

dBSPL/Xm/Xw/X Ohm

设定为dBSPL/2.83V时，自动设定距离。如果距离超过10厘米的话，会自动转换为dBSPL/Watt/Meter通用格式。在一般的电性测试里，频率响应曲线以dB为单位。

 [F2]

    频率响应曲线自动平滑。

[F3]

在[声音特性]（acoustic）测试里，设定延迟补偿，不论自动或手动。

[F4]

    瀑布频谱之显示范围（从1.7至13.3Milliseconds）。

[F5]

    瀑布频谱之较低频率显示范围（从200HZ至2000HZ）。

[F6]

    瀑布频谱之线条数：选用48、60或72。

[F7]

    删除回音点。通常用于消除室内反射音。当同一房间经常使用之际，此设定非常有用，可以把以知的室内反射音消除掉。内定为3.5Milliseconds左右。

[F8]

    设定[声音速度]。由于音速随着气压、湿度与气温的不同而改变，测试距离（受测物件与麦克风之间的距离）需要输入正确音速，才能获得精确值。内定音速为343米/秒。

[F9]

    改变线条格式，由其在使用单色显示屏时，提高辩别效果。

[F10]

    设定自动极性判别之频率。

[F12]

在品管功能设定里，如果所测得的曲线超过或者低于设定曲线之误差容许度时，系统会自动提示“GO”或“NOGO”，此误差容许度由使用者设定。

[↑F2]

设定快速重测功能之自动测试次数，例如设定为“5”，当按下快速重测键时系统会连续测试5次。

[F3]

    设定灵敏度取样频率点，最多可读取十个取样频率且取样频率不超过10KHZ。

9-3.设定荧幕书面色彩与自动歇息

    按[F11]即出现设定荧幕书面色彩与自动歇息之各种选项。此时按[F11]可以启用预设的三项设定（适用与液晶显示）。按[F12]设定书面自动歇息之延迟时间。

    有63种颜色可用。在单色模式里，以灰阶呈现，因此有些灰色看似重复。

    如下图所示：

9-4.设定系统参数

特别注意！

    系统设定是评监运算的关键所在，任意改变极可能造成负面的影响，包括耗费更多的时间、结果错误、误差扩大、甚至系统死机等！！

    所有系统设定均由制造者最佳化处理而成，唯有在进行特殊之应用以及由完全熟悉数字讯号评监技术的行家才适宜更改之。

    每一选项说明如下：

[F1]

    选择[频率响应测试]之视窗，RMS平均值、与重叠运算方式。（注：如果选用PNCHIRP.DAT测试讯号的话，这些选项是固定的）

[F2]

    选择[阻抗测试]之视窗，RMS平均值、与重叠运算方式。（注：如果选用CHIRP.DAT测试讯号的话，这些选项是固定的）

[F5]

   选择[谐波失真测试]之视窗。内定为KAISER，亦可选用SOUARE或FLATTOP。

[F6]

   选择[互调失真测试]之视窗。内定为KAISER，亦可选用SOUARE或FLATTOP。

[F7]

   设定麦克风灵敏度。内定值有±2Pa与±8Pa两种。

可选择范围：±1Pa、±4Pa，±2Pa与±8Pa，±4Pa与±16Pa。

特别注意：

    一旦改变此设定，所用之麦克风必须重新校准过，而且要重新设定麦克风前级扩大机（详见9-5节：校准）。

[F8]

    测试讯号开始（于时间讯号视窗T=0）与分析开始之间的等待时间（包括所有失真测试与频谱分析）。内定于：2048点=43ms。

[F9]

   变更ADC/DAC卡之地址范围。内定地址为358H至35FH。如果此地址与其它扩充卡之地址冲突的话，可以变更DAAS卡之[跨接器]（Jumper）设定。

注意：

   如果没有遵照下列之设定方式，注定会造成系统死机！！

可变更的地址范围如下：

1D8H-1DFH，Jumper设定：J1…J8=00011010

2D8H-2DFH，Jumper设定：J1…J8=00110010

320H-327H，Jumper设定：J1…J8=11000111

350H-357H，Jumper设定：J1…J8=10010011

358H-35FH，Jumper设定：J1…J8=10010010

表示用Jumper跨接，[0]表示不用Jumper跨接。

[F10]

    于所有声音测试里，在测试讯号开始（时间讯号窗T=0）与分析开始之前的额外等待时间。

    内定：无。（只有某些特定的ADC/DAC卡才需要改变此项设定）

[F11]

    ADC/DAC转换器之数字滤波器延迟补偿。

9-5.校准

    所有输入电平必须预先校准，尤其是麦克风输入。执行校准之际，应该利用已有固定讯号电平的校准器（例如94dBSPL或Paeff）。先执行电平测试，然后与校准器之电平比较，如果彼此有差异的话，则必需适当调整扩大机之音量旋钮。

    如果有必要调整的话，必需取出DAAS卡，调整其微调器（如下图所示）。

10.DAAS 3L+之技术资料

10-1.ADC-/DAC-卡

功能：    PC扩充卡，石英控制，[模拟/数字转换器]与[数字/模拟转换器]，以及                              输入与输出放大器。

输入：     电性（线性）：±0.20V、±2.0V、±20V，软体可切换

           输入阻抗100K Ohm

           麦克风输入：100mV，Phantom电源8V。

           电阻8.2Ohm。输入灵敏度来自DAAS

           麦克风：±2Pa与±8Pa，软体可切换

           最大电压：2Vss

输出：     输出电阻<10 Ohm，最小负载：600 Ohm，

           输出电平至6Vpp，软体可控制，每阶1.5dB，可达90dB衰减

取样率：   48KHZ与6KHZ

地址范围： 358 Hex至35F Hex

接口：     [Line输入]、[Out输出]与[Mic麦克风]

温度与湿度：使用中：+17°至+35°C，没有结露。湿度：10%至75%。

储藏温度：  0°至+50°C，没有结露。

预热时间：  大约15分钟即可达到所需之准确度。

麦克风：    压敏式

            直径：6mm

            频率范围：20HZ至20KHZ

            误差容许度：±2dB（20HZ至20KHZ）

精度：      不可测（理论值在0.0015%以下）

10-2.DAAS 3L软体

功能形式：     FFT分析仪

FFT长度：     512至4096点

计算时间：     FFT4096点：0.35秒

               FFT1024点：0.08秒

               （依据386/33个人电脑在HANN视窗下之测试）

解析度：       频率与阻抗可至0.59HZ

评监视窗：     SQUARE（UNIFORM），

               HANN（或HANNING），

               BLACKMAN，

               KAISER（B=10.056），或

               FLAT TOP

重叠：         0%至50%

分析：         详见1-1节

讯号：         DAAS 3L+提供各式各样的测试讯号，也可由使用者外接特殊测试讯号

讯号格式：     16位元线性编码：范围±32764，INTEL格式（先是低位元组）

图形书面：     SVGA：1024×768像素，彩色可变换

               SVGA：800×600像素，彩色可变换

               VGA：640×480像素，彩色可变换

               EGA：640×350像素，彩色可变换

10-3.最低系统需求

IBM-AT 486/586或相容型号个人电脑（最好是INTEL之PentiumⅡ或Pentium Ⅲ系列个人电脑）

VGA/SVGA显示卡

Windows 3.1、Windows 95、Windows 98环境

Microsoft鼠标或其它相容型鼠标（非必需，但方便工作）。

硬盘空间1GB以上

3.5英寸软盘驱动器

16MB RAM或者32MB RAM

数学计算器（FPU）（但非必需）

11.有关安全使用之重要事项

依据DAAS 3L+所设定之应用方法执行测试。若有任何疑虑，请询问专家。

输出插孔不可施予任何电压。

接插或拔离讯号线之前，一定要关闭电脑的电源。

不要使用桥接的功率放大器。

注意静电，以免造成损害。

DAAS插孔应该保持干净，可定期使用洁净剂清洁，但不可使用任何带有侵蚀性的清洁剂。

久用之后，DAAS卡可能受灰尘影响而导至误差产生。应该定期使用软刷轻轻扫去积尘。不要用抹布擦拭，以免其累积之静电伤及元件。

DAAS卡出厂时所设定的地址为358 Hex至35F Hex，不用[中断]（IRQ），亦不用DMA。如果与SCSI 2或其它扩充卡发生地址冲突的话，可依照第9章[选项]之说明更改DAAS卡之地址。

12.有关DAAS在测试时的注意事项

正如前文所言，DAAS的性能已高于常用的测试仪器。但作为声学测试来说，目前，还没有哪一家无响室的测试结果是绝对的。环境对测试的制约是无可避免的。虽然您不需要建造一个昂贵的标准无响室，但为DAAS 3L+提供一个较大的空间、有吸音设施的环境，对您是有百利而无一害的。如果环境得宜的话，DAAS 3L+所表现的精确度是非常具有价值的。

在作频响测试前，DAAS 3L+必须先行内建一个信号基准，请参阅3-1节内容。

在测试放大器、分频器时，其输出端应接有假负载。

在对麦克风测试时，被测麦克风头与参考麦克风头应放在同一位置。

声学测试，信号音压应高于噪讯音压。其两者相差幅度越大结果准确性就越高。

对于狭小、反射强烈的测试环境，麦克风与被测扬声器的距离不宜过远。

在声性或电性测试里，请注意在[Input Select]里选择选项，同时注意DAAS所提示的信号强度不宜过大或过小。

13.DAAS 3L+特别版的特色与变更

DAAS 3L+特别版提供更高调换取样率：64KHZ

为支持DAAS 3L+特别版而重新设计的高精度麦克风，使系统总失真度低于0.003%（正常使用下）。

必须配备至少486DX等级的个人电脑。（建议：欲使DAAS 3L+特别版发挥较佳作用，最好使用奔腾以上机型个人电脑。）

在[频率响应测试]里，欲使Y轴显示范围放大或缩小，先按[F8]然后按[F4]，即可选择所需Y轴显示范围值；欲使X轴显示范围放大或缩小，同样在[F8]选项里，选择[F1]或[F3]即可。

欲读取频响曲线上任意一点数值，只需按鼠标右键移至曲线上欲知的那一点即可。

DAAS 3L+特别版能记录硬盘容许范围内的任意多条测试曲线，而且重取以往记录的频响曲线时，只要在主菜单选项中选择[F1]，再选择[F5]，再自行选取欲查找的不同类型的曲线即可。

欲改变自动读取频响曲线上特定点的频率，可在主菜单[F10]中选择[F9]，再修改[F11]频率值。如此在每次测试之际，会自动在屏幕画面上方出现该频率点之灵敏度。

DAAS 3L+特别版可测试阻抗值2 Ohm至256 Ohm之间的扬声器。如果测不同阻值的扬声器时，可在主菜单[F10]里选择[F9]，再选定[F1]，键入您欲测扬声器的标称阻抗值后再行测试。DAAS 3L+特别版即可换算出标准1瓦/米的灵敏度曲线。

DAAS 3L+特别版能对扬声器的声性极性作出判断。此项功能应用于生产线时，即可迅速判别单体内部接线的正确程度。

上下限曲线（mask lines）可利用鼠标绘出，而且可以储存或重新载入。使用[ASCⅡ文书编辑命令]（如DOS的Edit命令）即可改变上下限曲线内容。频响上下限曲线档案的名称为[????.MH]；阻抗上下限曲线档案的名称为[????.MZ]。注意：不要改变档案内关键字，也不可改变数字所在相对位置。

改变频率响应曲线为上下限曲线的步骤如下：在频率响应菜单内，先选择[F10 Function]，再按[F1 Exprot]，为原来频响曲线起一个上下限曲线的基准线名。然后还是从[F10 Function]内选[F3]，按[Improt Mask Lines]。找到基准线名，键入所要上移或下移的数值。

注意：如果是下限，在数字前加一，不变更的话，键入0（单位为dB）。

DAAS 3L+特别版能快速重测频响或阻抗，在频响或阻抗菜单内，按[F9]即可。

DAAS 3L+特别版在阻抗测试里可显示测试范围内阻抗最大与最小值及相应频率。具体步骤是：在阻抗测试菜单里，先按[F8]，再选[F1]。

欲同时显示频响曲线与阻抗曲线，首先执行阻抗测试，调整Y轴显示范围。然后回到主菜单，移去阻抗测试线，开始执行频响测试，此一步骤完成后，在频响菜单[F10]内选择[F5]，重新直接执行阻抗测试（无需再作阻抗基准测试）。此时，阻抗曲线与频响曲线同时显示于同一画面上。

DAAS 3L+特别版设有品管自动蜂鸣提示、不同颜色字体显示及上下限曲线自适应功能。蜂鸣及上下限曲线自适应功能开关在主菜单[F10]>[F9]>[F12]。

在评估谐波失真时，DAAS 3L+特别版不仅能测出总谐波失真曲线，精度更可达至2-7次谐波失真曲线，同时可测出该测试点的音压。

麦克风的比较：首先在DAAS 3L+特别版所在的目录里，建立一个MIC-CORR.TXT（ASCⅡ）。在此档案里包含两个修正因数（单位：dB）。

例如：-5

3

  （必须占用两行）如此在每一次[声性-声性]曲线测试里（如扬声器比较），会自动在曲线上加入这两个修正值（修正值会出现在画面上方）。

DAAS 3L+特别版为只拥有不太大的测试室但需要测试较大音箱的用户设计了结合曲线功能，执行步骤为：首先执行扬声器频响测试步骤，然后将麦克风移近欲重测之扬声器（近场测试），按[F10]-[F6]，键入选择的结合点，测试会重复执行，在您所选的结合点以下部分会被新的测试曲线所替代。与其它曲线一样，此结合曲线可以储存，亦可以随时载入。

为了使使用DAAS进一步简单化，DAAS 3L+的宏功能即可以在软盘上记录，也可以在硬盘上记录，欲记录自动执行的宏时，先按[Alt]+[R]，然后按[Alt]+[F1]…[Alt]+[F9]，分别选择[宏1]…[宏9]。欲结束记录时，再按一次[Alt]+[R]即可。日后要重新自动执行宏功能时，只需按[Alt]+[F1]或[Alt]+[F9]，所记录的测试或品管执行步骤即可自动执行。

在图形界面内，按鼠标左键即可在该处键入您所要加入的注释。

在示波器功能内，如欲选择音频范围内的正弦波或方波，在[Test Signal]内先键入[new]字母，再选择[F1]正弦波或[F2]方波。

频响曲线平滑功能（1/3 Octave）开关键设置在主菜单[F10]>[F9]>[F2]中。

DAAS 3L+特别版可支持HP各类黑白、彩色喷墨或镭射打印机，也可输出PCX文件，供图形处理软件（如Photoshop）或文字处理软件（如MS-office之Word）调用图形。

品管功能中，字符的大小及字母本身均可改变，只需用ASCⅡ文书编辑程式打开及修改DAAS 3L+特别版目录下的OK.TXT程式。

上述之说明以及所列之规格有可能变动，恕不另行通知。

?1990，2004 Enigma & adm engineering